sl33
sl44
mic1
mic2
cimps1_systembanner

Kính Hiển Vi Điện Tử Quét Để Bàn Phenom ParticleX AM

Kính Hiển Vi Điện Tử Quét Để Bàn Phenom ParticleX AM
kinh-hien-vi-dien-tu-quet-de-ban-phenom-particlex-am - ảnh nhỏ  1

Kính Hiển Vi Điện Tử Quét Để Bàn Phenom ParticleX AM

sem_am

Tổng Quan

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Thermo Scientific Phenom ParticleX là một loại kính hiển vi điện tử quét để bàn thiết kế cho công nghiệp sản xuất phụ gia, cung cấp độ sạch ở cấp độ micro.

Kiểm soát dữ liệu:

  • Giám sát đặc tính quan trọng của bột kim loại
  • Ứng dụng quá trình sản xuất nguyên liệu và thêm bột phụ gia.
  • Xác định phân bố cỡ hạt, hình thái riêng lẻ của hạt, và các hạt lẫn.

Kính hiển vị điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM được trang bị buồng mẫu lớn cho phép phân tích lên tới kích thước 100 mm x 100 mm. Cơ chế nạp mẫu lấy mẫu ra độc quyền đảm nạp và lấy mẫu ra nhanh nhất, cho năng suất cao.

Các tính năng chính

Ứng dụng chung

Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM có một buồng mẫu với một mô tơ chính xác và nhanh cho phép phân tích mẫu lên tới kích thước 100 mm x 100 mm. Mặc dù kích thước mẫu lớn, một cơ chế nạp mẫu độc quyền giúp thời gian nạp là 60 giây hoặc ít hơn. Trong thực tế cải tiến này là yếu tố năng suất hơn các hệ thống SEM khác.

Sản xuất phụ gia

Kính hiển vị điện tử quét để bàn Phenom ParticleX đo các thông số kích thước và hình dạng đa dạng,, như đường kính lớn nhất và nhỏ nhất, chu vi, tỷ lệ hình dạng, độ nhám và đường kính Feret. Tất cả có thể hiển thị với 10%, 50%, 90% giá trị.

Ánh xạ nguyên tố và đường quét

Đối với người dùng chỉ cần nhấn và chạy làm việc chức năng ánh xạ nguyên tố và đường quét của kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM. Chức năng đường quét hiển thị  số lượng phân bố nguyên tố trong một đồ thị. Đây là đặc tính quan trọng trong lớp phủ, sơn và các ứng dụng khác với nhiều lớp để phân tích cạnh, lớp phủ, mặt cắt ngang …

Đầu dò điện tử thứ cấp

Một máy dò điện tử thứ cấp (SED) là tùy chọn có sẵn trên Kính hiển vi điện tử quét để bàn Phenom ParticleX AM. SED thu thập các electron năng lượng thấp từ lớp bề mặt trên cùng của mẫu. Do đó, nó là sự lựa chọn hoàn hảo để tiết lộ thông tin bề mặt mẫu chi tiết. SED có thể được sử dụng nhiều cho các ứng dụng trong đó địa hình và hình thái học là quan trọng. Đây thường là trường hợp khi nghiên cứu cấu trúc vi mô, sợi hoặc hạt.

Thông số kỹ thuật:

Quang điện tử: Nguồn nhiệt điện tử thuổi thọ cao (CeB6) đa dòng
Phạm vi phóng đại quang điện tử: 160 - 200.000x
Độ phóng đại quang học: 3 -16x
Độ phân giải <10nm
Tùy chọn độ phân giải hình ảnh 960 x 600, 1920 x 1200, 3840 x 2400 và 7680 x 4800 pixel
Điện áp gia tốc: mặc định 5 kV, 10 kV và 15 kV
Chế độ nâng cao: phạm vi điều chỉnh giữa chế độ hình ảnh và phân tích thế từ 4,8 kV đến 20,5 kV
Mức chân không: Thấp - trung bình - cao
Đầu dò quang phổ tia X phân tán năng lượng (EDS) (tiêu chuẩn)
Đầu dò điện tử thứ cấp (tùy chọn)
Kích thước mẫu tối đa: 100 mm x 100 mm (đế mẫu tối đa 36 x 12 mm)
Chiều cao mẫu tối đa 40 mm (h)
Thời gian nạp mẫu xuất ảnh:
    - Ánh sáng quang học <5 s
    - Quang điện tử <60 s

TÌM KIẾM
HỖ TRỢ TRỰC TUYÊN
icon 024 6296 7539
LOGO ĐỐI TÁC
8
3
1
9
TIN TỨC VÀ SỰ KIỆN

Chưa cập nhật

logo

CÔNG TY CP VẬT TƯ THIẾT BỊ VÀ DỊCH VỤ KỸ THUẬT TOÀN CẦU

Email: sales@gsemvn.com

Văn Phòng Giao Dịch: P. 630, Tầng 6, CIC Tower, Số 1 Nguyễn Thị Duệ, Cầu Giấy, Hà Nội

Địa chỉ ĐKKD: Số 18 Ngách 6 Ngõ 313 Lĩnh Nam, P. Vĩnh Hưng, Q. Hoàng Mai, Hà Nội